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    基礎(chǔ)信息Product information
    產(chǎn)品名稱:

    700-1800nm狹縫掃描激光光束分析儀

    產(chǎn)品型號(hào):NanoScan 2s Ge/3.5/1.8

    廠商性質(zhì):經(jīng)銷商

    所在地:深圳市

    更新時(shí)間:2024-11-12

    產(chǎn)品簡介:

    NanoScan 2s Ge/3.5/1.8型700-1800nm狹縫掃描激光光束分析儀通過其鍺探測(cè)器,精確捕獲和分析700nm - 1800nm的波長。該分析儀包括適合于小光束的孔徑尺寸、近實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)捕獲率、可選功率測(cè)量功能等特征,且可在連續(xù)或kHz脈沖模式下工作,非常適合于對(duì)IR和NIR激光進(jìn)行全面分析。

    產(chǎn)品特性Product characteristics
    品牌Ophir價(jià)格區(qū)間面議
    產(chǎn)地類別進(jìn)口應(yīng)用領(lǐng)域綜合

    700-1800nm狹縫掃描激光光束分析儀(NanoScan 2s Ge/3.5/1.8)


    通過其鍺探測(cè)器,精確捕獲和分析700nm - 1800nm的波長。該分析儀包括適合于小光束的孔徑尺寸、近實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)捕獲率、可選功率測(cè)量功能等特征,且可在連續(xù)或kHz脈沖模式下工作,非常適合于對(duì)IR和NIR激光進(jìn)行全面分析。


    產(chǎn)品特點(diǎn):


    光束尺寸7µm至~2.3mm

    功率級(jí)范圍為~10nW至~10W

    USB 2.0接口

    包含NanoScan標(biāo)準(zhǔn)或?qū)I(yè)軟件

     

    產(chǎn)品選型:


    PH00459

    NS2s-Ge/3.5/1.8-STD

    狹縫掃描式小光束輪廓分析儀:鍺探測(cè)器,3.5mm孔徑,1.8µm狹縫

     

    PH00467

    NS2s-Ge/3.5/1.8-PRO

    狹縫掃描式小光束輪廓分析儀:鍺探測(cè)器,3.5mm孔徑,1.8µm狹縫

     

    產(chǎn)品規(guī)格:


    產(chǎn)品名稱:NanoScan 2s Ge/3.5/1.8

    傳感器類型:Germanium Photodetector

    光譜范圍:700 to 1800 nm

    狹縫尺寸:1.8 µm

    孔徑尺寸:3.5 mm

    光束尺寸:7 µm to 2.3 mm

    掃描頭尺寸:83 mm

    功率范圍:10 nW to 10 W

    通信:USB 2.0

    兼容的光源CW, Pulsed >25 kHz


    700-1800nm狹縫掃描激光光束分析儀(NanoScan 2s Ge/3.5/1.8)


    掃描式光束分析是一種經(jīng)典的光斑測(cè)量技術(shù),通過狹縫 / 小孔取樣激光光束的一部分,將取樣部分通過單點(diǎn)光電探測(cè)器測(cè)量強(qiáng)度,再通過掃描狹縫 / 小孔的位置,復(fù)原整個(gè)光斑的分布。

     

    掃描式光束分析儀的優(yōu)點(diǎn) :

     

    取樣尺度可以到微米量級(jí),遠(yuǎn)小于 CCD 像素,可獲得較高的空間分辨率而無需放大;

     

    采用單點(diǎn)探測(cè)器,適應(yīng)紫外 ~ 中遠(yuǎn)紅外寬范圍波段;

     

    單點(diǎn)探測(cè)器具備很高的動(dòng)態(tài)范圍,一個(gè)探頭可同時(shí)適應(yīng)弱光和強(qiáng)光分析。

     

     

     

    掃描式光束分析儀的缺點(diǎn) : 

     

    多次掃描重構(gòu)光束分布,不適合輸出不穩(wěn)定的激光;

     

    不適合非典型分布的激光,近場(chǎng)光斑有熱斑、有條紋等的狀況。

     

    掃描式光束分析儀與相機(jī)式光束分析儀是互補(bǔ)關(guān)系而非替代關(guān)系;在很多應(yīng)用,如小光斑測(cè)量(焦點(diǎn)測(cè)量)、紅外高分辨率光束分析等方面,掃描式光束分析儀具備du特的優(yōu)勢(shì)。

    700-1800nm狹縫掃描激光光束分析儀



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